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分享電子元器件常做的高低溫試驗測試
點擊次數(shù):1679 更新時間:2022-05-17

一、電子元器件徐要做哪些試驗?zāi)兀?/span>


溫度范圍 -40℃~150℃   常運行雙85測試


溫度波動度 ≤±0.5℃


 溫度偏差 ≤±2℃


溫度均勻度 ≤2℃


 溫度分辨率 0.01℃


升溫速率 -40℃→+85℃/25分鐘以內(nèi)


降溫速率 +20℃→-40℃/60分鐘以內(nèi)


濕度20%R.H~98%R.H


相對濕度偏差≤±3%RH


濕度波動度±2%R.H


濕度分辨率0.1%R.H


二、 電子元器件能承受高低溫試驗箱哪些考驗?


   1.加溫裝置是控制試驗箱升溫關(guān)鍵環(huán)節(jié);


  2.加溫裝置是控制器得到升溫指令時會輸出電壓給繼電器,大約3-12伏直流電加在固態(tài)繼電器上面;加溫裝置的交流端相當于導(dǎo)線接通;接觸器也同時吸合,加熱器兩端有電壓使其發(fā)熱,通過循環(huán)風(fēng)機帶動把熱量帶到箱里,使試驗箱升溫;


  3.當溫度快達到設(shè)定值,控制器通過加在固態(tài)繼電器通斷調(diào)節(jié);


  4.在試驗箱屏幕上觀察加熱出力多少來調(diào)節(jié)發(fā)熱量;試驗箱是在一邊通過固態(tài)繼電器發(fā)熱出力多少,另一邊通過壓縮機制冷循環(huán)降溫來達到動態(tài)平衡,溫度恒定。

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