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GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品低溫試驗
點擊次數(shù)：2592 更新時間：2019-04-04
GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品低溫試驗
點擊次數(shù)：66 發(fā)布時間：【2019-02-28】

GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品低溫試驗

   GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫試驗

   本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的低溫試驗適用于非散熱和散熱里兩類試驗樣品.本標(biāo)準(zhǔn)于用來考核確定電工,電子產(chǎn)品(包括元件,設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的環(huán)境適應(yīng)性。

   低溫試驗不能用來考核試驗樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力,在這種情況下,應(yīng)選擇溫度變化試驗方法.

  

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